- 加熱爐設(shè)備
- 晶體及材料
- 破碎/球磨設(shè)備
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- 輥壓設(shè)備
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- 磨拋設(shè)備
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- 薄膜制備
- 配件
- 其它實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
硅材料綜合測(cè)試儀
- 型號(hào)：
- JX2008
- 產(chǎn)品概述：
- JX2008電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
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技術(shù)參數(shù)產(chǎn)品視頻實(shí)驗(yàn)案例警示/應(yīng)用提示配件詳情
| 參數(shù)
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1.具有電阻率及型號(hào)測(cè)試功能，適合分選型號(hào)，并能夠測(cè)試并顯示出電阻率的值。 2.電阻率分檔直觀，P/N報(bào)警門限分設(shè)。 3.預(yù)設(shè)樣片厚度，自動(dòng)修正，直讀電阻率 4.P/N分選精度超強(qiáng) 5.交流電AC220V供電 6.主機(jī)尺寸：155×120×50mm 6.電阻率:0.001-100歐姆厘米 7.P/N型號(hào):0.005歐姆厘米<電阻率<100歐姆厘米
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