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手持式四探針電阻率測試儀
- 型號:
- M-3
- 產(chǎn)品概述:
- M-3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
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技術參數(shù)產(chǎn)品視頻實驗案例警示/應用提示配件詳情
名稱
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手持式四探針電阻率測試儀-M-3 |
產(chǎn)品特征
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工作電源
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208-240V,50/60Hz 電池供電:DC3.7V
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探頭
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碳化鎢探針探頭(固體材料):測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料(詳見圖1) 球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜):可測金屬箔、碳紙等導電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層(詳見圖2) 圖1圖2 圖3
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選配
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可選配快速恒壓四探針測試臺,對測試壓力進行調(diào)節(jié)保證恒壓測試,提高測試的精確度
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測量范圍、分辨率
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電阻:0.010~50.00kΩ 分辨率:0.001~10 Ω 電阻率:0.010~20.00kΩ-cm 分辨率:0.001~10 Ω-cm 方塊電阻:0.050~100.00kΩ/m2 分辨率0.001~10Ω/m2
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基本誤差
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±1%FSB±2LSB |
外形尺寸
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210mm L × 100mm W × 36mm H |
凈重
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0.3kg |
質(zhì)保期
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一年保質(zhì)期,終生維護 |
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